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400-7075-800高低温试验箱控制的是箱体内的空气温度。对于发热产品,其内部核心器件(如芯片、功率管)的温度等于环境温度与温升之和。
测试意图:想要验证产品在 -20℃ 的环境下能否启动和工作。
实际遭遇:产品自身发热可能使其核心温度维持在 +20℃ 甚至更高。
影响:这会导致本应暴露于严寒中的元器件(尤其是电解电容、机械硬盘、润滑油、塑料件等)实际上处于“温暖"状态,无法验证低温应力下的真实性能。如果产品通过了测试,并不能代表它真的能在严寒环境中稳定运行。
低温试验通常要求“温度稳定",即所有部件的温度达到设定值并保持恒定。
如果发热产品在未通电时能降到-40℃,但通电后热量迅速散发,箱体的制冷系统可能来不及带走热量。
结果:箱体显示-40℃,但产品表面或内部关键点温度可能比设定值高出几十度。若测试标准要求“在低温下带载运行XX小时",此时实际是“在带载产生的微环境中运行",而非在设定低温下运行。
很多标准要求进行“低温启动"测试。
如果产品在低温下放置足够长时间后,在通电瞬间,虽然冷态启动了,但由于自身发热,后续持续工作时的温度上升掩盖了低温对长期稳定性的影响。
风险:对于某些对温度敏感的故障模式(如低温导致润滑油凝固、电池内阻骤增、电容ESR增大),可能在启动后几分钟内因自发热而“掩盖"了故障,但实际上低温环境依然存在,一旦产品进入休眠模式(功耗降低),温度回落,可能出现二次启动失败或间歇性故障。
高低温试验箱在做低温测试时,通常伴随着湿度控制或从低温升高温的循环。
如果产品自身发热,表面温度高于空气温度,虽然能暂时防止结霜,但破坏了测试环境的一致性。
在温度循环中,发热会导致产品内部空气与外部环境产生压力差,可能将湿气吸入产品内部,在断电冷却后形成严重凝露,导致短路。这种“热泵"效应在发热产品上尤为明显。
很多测试标准(如GB/T 2423, MIL-STD-810等)在低温测试中有明确规定:对于散热试件,试验箱应提供足够的空气流速和制冷量,以抵消试件发热带来的影响,确保试验箱内的空气温度保持在规定范围内。
如果试验箱制冷量不足或风速不够,产品周围的空气会形成一个“热边界层",导致实际测试条件偏离标准要求。
为了避免上述影响,在进行此类测试时,通常需要采取以下措施:
区分“散热"与“非散热"试件:
首先应明确测试依据的标准中对发热产品的定义。对于大功率发热产品,通常要求在“无风"或“特定风速"条件下进行测试,但同时必须保证温度均匀性。这需要平衡。
使用“低温启动"与“温度稳定"分开的策略:
温度稳定阶段:产品不工作。待产品核心温度(通过布设热电偶监测)降至设定低温并保持足够时间(如2小时)后,再进行通电。
功能测试阶段:允许产品发热,但需监控。如果产品发热导致环境温度超出允差范围(例如标准要求±2℃或±3℃),则视为测试条件失效。
增加箱体制冷量与风速:
试验箱的风速需要足够大,以带走产品表面散发的热量。如果产品发热量接近箱体的制冷量极限,测试将无法达到设定温度(箱体会因热负载过大而报警或无法降温)。
采用“极限温度监控"而非仅看箱体显示:
必须将热电偶贴在产品最敏感的关键部件上(如功率管散热片、电解电容表面、电机线圈),并以这些点的温度作为判定依据,而非箱体的显示温度。
如果测试标准允许,可考虑“间歇工作"模式:
对于某些发热量极大、远超其使用环境的设备,如果测试目的是验证低温下的机械动作而非满载热平衡,可采用“短时通电、长时冷却"的循环模式,防止自加热累积。
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